Döndürerek kaplama yöntemi ile CuO yarıiletken filmlerinin elde edilmesi, optik ve yapısal özelliklerinin incelenmesi

Yayın:
Döndürerek kaplama yöntemi ile CuO yarıiletken filmlerinin elde edilmesi, optik ve yapısal özelliklerinin incelenmesi

dc.contributor.author	Demirci, Yasin
dc.contributor.department	Fizik Anabilim Dalı
dc.date.accessioned	2026-07-02T20:53:54Z
dc.date.issued	2012
dc.description	Sadece dijital ortamda erişilebilir.
dc.description.abstract	Bu çalışmada, CuO yarıiletken filmleri cam alt tabanlar üzerine döndürerek kaplama yöntemi ile elde edilmiştir. Farklı sıcaklıkta tavlanan filmlerin x-ışını kırım desenlerinden polikristal tenorit yapıda oldukları saptanmıştır. CuO filmlerin kalınlık değerleri elipsometre yardımı ile 0,65 μm olarak belirlenmiştir. Absorpsiyon spektrumu ölçümlerinden filmlerin direkt bant aralığına sahip ve yasak enerji aralıklarının 1,62 eV ile 1,69 eV arasında değiştiği belirlenmiştir.	tur
dc.identifier.other	85271
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/11421/43070
dc.language.iso	tur
dc.publisher	Anadolu Üniversitesi
dc.subject	İnce filmler Optik özellikler
dc.subject	Yarıiletkenler Optik özellikler
dc.title	Döndürerek kaplama yöntemi ile CuO yarıiletken filmlerinin elde edilmesi, optik ve yapısal özelliklerinin incelenmesi
dc.type	masterThesis
dspace.entity.type	Publication

Şimdi gösteriliyor 1 - 1 / 1