Döndürerek kaplama yöntemi ile CuO yarıiletken filmlerinin elde edilmesi, optik ve yapısal özelliklerinin incelenmesi

Abstract

Bu çalışmada, CuO yarıiletken filmleri cam alt tabanlar üzerine döndürerek kaplama yöntemi ile elde edilmiştir. Farklı sıcaklıkta tavlanan filmlerin x-ışını kırım desenlerinden polikristal tenorit yapıda oldukları saptanmıştır. CuO filmlerin kalınlık değerleri elipsometre yardımı ile 0,65 μm olarak belirlenmiştir. Absorpsiyon spektrumu ölçümlerinden filmlerin direkt bant aralığına sahip ve yasak enerji aralıklarının 1,62 eV ile 1,69 eV arasında değiştiği belirlenmiştir.