Yayın:
Characterization of Microstructural and Morphological Properties in As-deposited Ta/NiFe/IrMn/CoFe/Ta Multilayer System

Yükleniyor...
Thumbnail Image

Dergi Başlığı

Dergi ISSN

Cilt Başlığı

Yayımcı

Araştırma Projeleri

Organizasyon Birimleri

Dergi Sayısı

Özet

Açıklama

Anahtar kelimeler

Materials science, Microstructure, Texture (cosmology), Surface roughness, Surface finish, Sputter deposition, Dislocation, Anisotropy, Composite material, Layer (electronics), Morphology (biology), Sputtering, Crystallography, Thin film, Optics, Nanotechnology, Chemistry

Alıntı

Koleksiyonlar

Endorsement

Review

Supplemented By

Referenced By