Karbon nanotüp üretimi için kullanılan demir katkılı alüminada tane yönlenme miktarının belirlenmesi - Ünal, Didem (Anadolu Üniversitesi, 2010)
Çok kristalli malzemeler tek kristal tanelerinin bir araya gelmesiyle oluşur ve genellikle tanelerin yönlenmesi gelişigüzeldir. Eğer malzeme içinde kristallografik yönlenmeler rastgele değil ve tercihli bazı yönlenmeler varsa bu yapıya yönlenmiş (textured) yapı denir. Kristallerin tercihli yönlenme yüzdesine bağlı olarak yönlenmeler zayıf, orta ve güçlü şeklinde sınıflandırılabilir. Birçok malzemenin anizotropik kristal yapısına sahip olması nedeniyle malzemelerin özellikleri yöne bağlı olarak değişmektedir. Son zamanlarda yönlenmiş malzeme üretmek üzere değişik yöntemler geliştirilmiştir. Malzemelerdeki yönlenmenin saptanması, geri yansıyan elektron difraksiyonu (EBSD), x-ışınları difraksiyonu (XRD) ve geçirimli elektron mikroskobu (TEM) tekniklerinin kullanımı ile yapılabilir. EBSD tekniği, taramalı elektron mikroskobundan (SEM) mikron altı çözünürlükte kristallografik bilgi elde etmeyi sağlayan önemli bir teknik olup, incelenen malzemenin kristal yapısı, morfolojisi, kimyası ve fiziksel özellikleri arasındaki bağlantı hakkında bilgi edinmemizi sağlar. Bu çalışmada, karbon nanotüplerin üretimi için altlık olarak kullanılmak üzere yönlendirilmiş çekirdekle kontrollü tane büyümesi (TGG) yöntemi ile üretilen Fe-katkılı alümina seramiklerin yönlenme derecesi, EBSD tekniği kullanılarak ilk kez saptanıp, yönlendirilmiş alümina altlıkların üretimi ve EBSD için numune hazırlamada takip edilecek optimum koşullar belirlenmiştir.
"Bu tez çalışması Türkiye Bilimsel ve Teknolojik Araştırma Kurumu tarafından desteklenmiştir. Proje no: 108M185."
Keywords: Kristaller; Kristalografi; X ışınları Kırınım