Yayın:
GaAs/AlGaAs tabanlı kuantum kuyularının TEM (geçirimli elektron mikroskobu) ile analizi

dc.contributor.authorKarakulak, Tuğçe
dc.contributor.departmentFizik Anabilim Dalı
dc.date.accessioned2026-07-02T22:38:19Z
dc.date.issued2010
dc.description"Bu tez çalışması TBAG-107T012 numaralı proje kapsamında TÜBİTAK tarafından desteklenmiştir."
dc.description.abstractGaAs ve A1GaAs bileşikleri yüksek bağlanma gücü, ısıl kararlılık ve kolay katkılanabilme gibi özelliklere sahip olması nedeniyle kuantum kuyu yapılarında yaygın olarak kullanılmaktadır. GaAs/AlGaAs kuantum kuyulu yapılarda, AlGaAs bileşiğindeki Al oranına bağlı olarak bariyer yüksekliği, kuyunun katkılama miktarı ve kuyu genişliği değiştirilerek kuantum kuyusunun algılama bölgesi ayarlanabilir. Bu özellikleriyle adı geçen yapılar, kızılötesi algılayıcılar için verimli ve elverişli malzemelerdir. Bu çalışmada, GaAs/AlGaAs yapılarının yapısal olarak incelenmesi ve Al-Ga-As konsantrasyonlarının belirlenerek yapıya etkisinin gözlenmesi amaçlanmıştır. Moleküler demet epitaksi tekniği ile büyütülmüş çoklu GaAs/AlGaAs kuantum kuyu yapıların, odaklanmış iyon demeti tekniği ile inceltilerek, taramalı geçirimli elektron mikroskobu, enerji dağılım x-ışını spektroskopisi, enerji filtreli geçirimli elektron mikroskobu ve elektron enerji kaybı tayfı teknikleri kullanılarak analizi yapılmıştır.tur
dc.identifier.other181820
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/11421/43693
dc.language.isotur
dc.publisherAnadolu Üniversitesi
dc.subjectGalyum arsenür yarıiletkenler
dc.subjectKuantum kuyuları
dc.subjectElektron taramalı mikroskopi
dc.subjectYayımlı elektron mikroskopisi
dc.subjectX ışınları spektroskopisi
dc.titleGaAs/AlGaAs tabanlı kuantum kuyularının TEM (geçirimli elektron mikroskobu) ile analizi
dc.typemasterThesis
dspace.entity.typePublication

Dosyalar

Orijinal seri

Şimdi gösteriliyor 1 - 1 / 1
Yükleniyor...
Thumbnail Image
Ad:
181820.pdf
Boyut:
6.57 MB
Format:
Adobe Portable Document Format

Koleksiyonlar