X-ışını toz kırınım deseni ile materyal tayini

Abstract

Materyallerin yapılarının belirlenmesi özellikle günümüz elektronik ve metalurji mühendisliğinde oldukça önemlidir. Materyallerin yapılarının belirlenmesi çalışmalarında X-ışınlarından başka, dalga özelliği de gösterebilen elektronlar ve nötronlar kulanılabilmektedir. Kristal çalışmalarında kulanılacak elektromagnetik dalganın veya elektron ve nötronların dalgaboylarının, kristalin birim hücresi boyutlarında yani yaklaşık 1 A civarında olması gereklidir. Günümüzde X-ışınlarıyla kristal yapılarının belirlenmesi için üç teknik vardır. Bunlar Laue, ve döner kristal ve toz tekniğidir. Laue ve döner kristal tekniklerinde numune olarak single kristal kulanılır. Her zaman single kristal bulmak güç olabilmektedir. Bu durumda incelenecek numune toz haline getirilerek toz tekniği ile incelenir. Yapılan bu çalışmada, kalsit, lületaşı materyalleri ve Cd-Pb-S (bir cam üzerine püskürtme yöntemiyle oluşturulan ) bileşikleri toz tekniği ile incelendi. Numunelerin toz kırınım desenleri incelendiğinde kalsitin mükemmel olmasa da kristal yapıya sahip oldukları gözlenmiştir.